本標(biāo)準(zhǔn)是對(duì)ＧＢ／Ｔ１７４７３—１９９８《厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料測(cè)試方法》（所有部分）的整合修訂，分為７個(gè)部分,本部分為ＧＢ／Ｔ１７４７３—２００８的第５部分。 本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了微電子技術(shù)用貴金屬漿料中 粘度的測(cè)定方法。 本部分代替ＧＢ／Ｔ１７４７３．５—１９９８《厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料測(cè)試方法　粘度測(cè)定》。
本部分與ＧＢ／Ｔ１７４７３．５—１９９８相比，主要有如下變化：
———將原標(biāo)準(zhǔn)名稱修改為：微電子技術(shù)用貴金屬漿料測(cè)試方法　粘度測(cè)定；
———將原標(biāo)準(zhǔn)中范圍去除“非貴金屬電子漿料粘度測(cè)定也可參照本標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行”