GB/T 5170的本部分規(guī)定了環(huán)境試驗設(shè)備（以下簡稱“設(shè)備”）檢驗所用術(shù)語和定義、檢驗條件、檢驗用儀器及要求、檢驗周期、檢驗負載、外觀和安全、檢驗記錄表、檢驗結(jié)果處理等。?
本部分適用于電工電子產(chǎn)品進行環(huán)境試驗所用設(shè)備的檢驗，其他產(chǎn)品進行環(huán)境試驗所用設(shè)備的檢驗亦可參照使用。