本部分為ＧＢ／Ｔ１５９７２的第５２部分。，本部分根據(jù)ＩＥＣ６０７９３-１-５２：２００１重新起草。本標準規(guī)定了評估光纖在給定環(huán)境中溫度變化性能的測量方法和試驗程序。適用于確定A1類多模光纖和B類光纖在實際應用、貯存或運輸過程中可能發(fā)生的溫度變化環(huán)境條件下的適應性能。 本部分與ＩＥＣ６０７９３-１-５２：２００１主要差異如下：
———適用范圍由Ａ１ａ至Ａ１ｄ類光纖改為Ａ１類光纖，Ｂ１至Ｂ４類光纖改為Ｂ類光纖；
———最小彎曲直徑１５０ｍｍ 改為繞圈直徑應大于１５０ｍｍ；
———在進行基準測量前應使試驗箱和試樣穩(wěn)定在標準大氣條件下改為穩(wěn)定在ＩＥＣ６０７９３-１-１：２００２規(guī)定的標準大氣條件下；
———在試驗前后要對光纖涂覆層平均剝離力進行測量改為對光纖涂覆層剝離力進行測量；
———糾正了某些不恰當?shù)臄⑹觥?/p>