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絕緣材料在300 MHz以上頻率下介電性能測(cè)定方法 第1部分:總則

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào): GB/T 29306.1-2012
替代情況:
發(fā)布單位: 中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
起草單位: 桂林電器科學(xué)研究所、西安交通大學(xué)、機(jī)械工業(yè)北京電工技術(shù)經(jīng)濟(jì)研究所
發(fā)布日期: 2012-12-31
實(shí)施日期: 2013-06-01
點(diǎn) 擊 數(shù):
更新日期: 2021年01月27日
內(nèi)容摘要

GB/T29306的本部分規(guī)定了絕緣材料介電性能的試驗(yàn)方法。
本部分適用于測(cè)定微波頻率范圍(即從約300MHz一直到光頻)中介質(zhì)材料的相對(duì)電容率、介質(zhì)損耗因數(shù)和與此有關(guān)的量,如損耗指數(shù)。

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