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本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了測(cè)量封裝引線(xiàn)電阻的方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于針柵陣列封裝(PGA)引線(xiàn)電阻的測(cè)試。該測(cè)試技術(shù)也適用于其他微電子封裝如無(wú)引線(xiàn)片式載體(LCC)、四邊引線(xiàn)扁平封裝(QEP)和陶瓷雙列封裝(CDIP)等引線(xiàn)電阻的測(cè)試。