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本文件依據(jù)電壓調(diào)整器低頻噪聲參數(shù)測(cè)試要求和測(cè)試技術(shù)現(xiàn)狀,規(guī)定了 1Hz~300kHz 頻率范圍內(nèi)的低頻噪聲參數(shù)測(cè)試方法,主要包括電壓調(diào)整器低頻噪聲測(cè)試的測(cè)試參數(shù)、測(cè)試條件、測(cè)試偏置電路、測(cè)試程序、資料性附錄等,適用于電壓調(diào)整器產(chǎn)品低頻噪聲參數(shù)測(cè)試。