本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了應(yīng)用數(shù)字探測(cè)器陣列的X射線數(shù)字成像檢測(cè)的要求、技術(shù)等級(jí)、檢測(cè)方法、圖像質(zhì)量、圖像評(píng)定、圖像管理、檢測(cè)后處理、記錄和報(bào)告。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于金屬材料、非金屬材料、復(fù)合材料等制品的X射線數(shù)字成像檢測(cè)。其他射線源構(gòu)成的數(shù)字成像檢測(cè)技術(shù)，可參照使用。