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本標準規(guī)定了硅外延層載流子濃度汞探針電容電壓測量方法。 本標準適用于同質的硅外延層載流子濃度測量。測量范圍為:4×1013cm-3~8×1016cm-3。 本標準測試的硅外延層的厚度必須大于測試偏壓下耗盡層的深度。 本標準也可適用于硅拋光片的載流子濃度測量。