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鍺單晶位錯(cuò)密度的測試方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號： GB/T 5252-2020
替代情況： 替代 GB/T 5252-2006
發(fā)布單位： 國家市場監(jiān)督管理總局 國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
起草單位： 中國電子科技集團(tuán)公司等
發(fā)布日期： 2020-06-02
實(shí)施日期： 2021-04-01
點(diǎn) 擊 數(shù)：
更新日期： 2020年07月08日
內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了鍺單晶位錯(cuò)密度的測試方法。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于、和面鍺單晶位錯(cuò)密度的測試，測試范圍為0 cm-2～100 000 cm-2。

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