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金屬和氧化物覆蓋層厚度測量顯微鏡法

標(biāo) 準(zhǔn) 號： GB/T 6462-2005
替代情況： 替代 GB/T 6462-1986
發(fā)布單位： 中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢驗(yàn)總局 中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
起草單位： 武漢材料保護(hù)研究所、寧波永新光學(xué)股份有限公司
發(fā)布日期： 2005-06-23
實(shí)施日期： 2005-12-01
點(diǎn) 擊 數(shù)：
更新日期： 2019年10月22日
內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了運(yùn)用光學(xué)顯微鏡檢測橫斷面，以測量金屬覆蓋層、氧化膜層和釉瓷或玻璃搪瓷覆蓋層的局部厚度的方法。

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